Ziel: Vergleich der Genauigkeit von Abformungen mittels computergestützter Abformtechnik und eines konventionellen Abformverfahrens in einem genormten In-vitro-Versuch und Untersuchung, welchen Einfluss die Implantatangulation (40° bis 45°) auf die Genauigkeit digitaler und konventioneller Abformtechniken hat. Material und Methode: Es wurden vier verschiedene Referenzmodelle (RM) eines unbezahnten Unterkiefers hergestellt. Darin wurden zwei gerade (RM1), vier gerade (RM2), zwei gerade und zwei angulierte (RM3) bzw. sechs gerade Dentalimplantate (RM4) platziert, um vier klinische Situationen zu simulieren. Die computergestützten Abformungen (n = 5 je RM) wurden mit einem Intraoralscanner (True Definition, 3M ESPE) durchgeführt. Für das klassische Abformverfahren wurden ein Polyethermaterial (n = 5 je RM) und ein additionsvernetzendes Silikon (n = 5 je RM) verwendet. Die erhobenen Daten wurden bezüglich ihrer Richtigkeit analysiert. Die statistische Auswertung erfolgte mittels einfaktorieller Varianzanalyse (ANOVA). Ergebnisse: Die Gesamtdifferenzen des interimplantären Abstands, bestimmt in Mittelwerten, waren für RM1, RM2 und RM4 zwischen den Abformgruppen statistisch signifikant. Die Analyse der interimplantären Gesamtabweichung beim Implantatwinkel zeigte statistisch signifikante Unterschiede für alle vier Referenzmodelle. Die verzeichneten Abweichungen überschritten jedoch bei keinem der beiden Abformverfahren den Grenzwert für den interimplantären Abstand (100 µm) und für den Winkel zwischen den Implantaten (0,5°). Das erscheint klinisch akzeptabel. Schlussfolgerung: Innerhalb des Geltungsbereichs dieser In-vitro-Studie war die Genauigkeit computergestützter und konventioneller Abformverfahren bei geraden und angulierten Implantaten vergleichbar. Beide Verfahren kommen für Ganzkieferversorgungen infrage, die auf mehreren Implantaten abgestützt sind. Allerdings sind zusätzliche klinische Studien erforderlich, um die Eignung verschiedener Intraoralscanner (mit und ohne Scanpuderauftrag) sowie verschiedene Implantatsysteme und Konfigurationen multipler Implantate zu testen.